第一章

總論

第二章

單晶成長

• 1.化合物單晶生長論
• 2.III-V族半導體材料的特性
• 3.LEC單晶生長法
• 4.水平式船形單晶生長法
• 5.垂直式柱狀單晶生長法
• 6.各種單晶生長法之比較

第三章

磊晶成長

• 1.概論
• 2.液相磊晶
• 3.有機金屬氣相磊晶
• 4.分子束磊晶
• 5.總結

第四章

材料檢測技術

• 1.前言
• 2.微結構分析
• 3.表面分析儀
• 4.結語

第四 B章

材料檢測技術-調制光譜光電半導體檢測

• 1.調制光譜介紹
• 2.調制反射光譜技術
• 3.光譜形狀分析
• 4.調制光譜的應用
• 5.量子元件的檢測
• 6.結論

第五章

元件物理

• 1.簡介
• 2.基本半導體特性
• 3.能帶理論和載子濃度
• 4.載子傳導
• 5.載子結合、產生過程
• 6.pn接面

第六章

光電元件

• 1.發光二極體
• 2.雷射二極體
• 3.光檢測器
• 4.太陽電池

第七章

高速電子元件

• 1.前言
• 2.雙極性電晶體
• 3.砷化鎵金半場效應電晶體
• 4.結論

第八章

製程技術

• 1.光照相微影術
• 2.濕式蝕刻
• 3.電漿輔助化學沈積
• 4.乾式蝕刻
• 5.離子佈植
• 6.歐姆接觸
• 7.總結

第九章

高速電子元件

• 1.前言
• 2.雙極性電晶體
• 3.砷化鎵金半場效應電晶體
• 4.結論

第十章

元件檢測技術

• 1.概論
• 2.溫度量測與恆溫系統
• 3.電特性量測
• 4.光特性量測
• 5.結論

第十一章

元件封裝技術

• 1.元件封裝簡介
• 2.半導體雷射模組構裝的種類
• 3.半導體雷射模組構裝的應用
• 4.半導體雷射模組構裝的方法
• 5.半導體雷射模組構裝可靠度測試
• 6.結論

第十二章

元件壽命及可靠度技術

• 1.光電元組件之品質保證流程與內函
• 2.元件壽命的預測與可靠度的計算
• 3.雷射二極體之品質測試與批品質控制
• 4.發光二極體之品質測試與批品質控制
• 5.光二極體之品質測試與批品質控制
• 6.總結

第十三章

積體光電系統

• 1.緒論
• 2.光電積體電路
• 3.光積體電路
• 4.微光機電系統
• 5.結論